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電子元器件退化實驗項目成功交付

  時間: 2019-07-31      660    

2019年7月30日,由西安向日葵直播app軟件有限公司自主開發的高度集成的電子元器件退化實驗項目成功交付。

NSAT-2000電子元器件自動化測試係統.png 

本次交付的電子元器件退化實驗係統包括電源模塊測試、FPJA/DGP測試、繼電器測試、電容測試等,均一次性上電調試正常運行,所有測試參數均達到客戶要求的技術指標和測試規範。

電子元器件退化實驗係統組成.png

該電子元器件退化實驗係統由總控單元、測試儀器、環境實驗設備、被測產品四部分組成。

該電子元器件退化實驗係統由環境實驗、實時監測為模擬元器件實際的工作環境,首先會將被測產品(FPFA/DSP芯片、電磁繼電器、電容、電源模塊)放入三種不同的環境下進行自動化環境試驗,以達到元器件正常工作所要求的使用環境條件。

係統提供的測試通道至少為16通道,確保每個模塊能夠進行正常測試。

電源模塊的測試通道數為4路,係統采用多電源多通道的方式完成任意通道或全通道的測試,相比繼電器切換可靠性更高,且通過電源模塊在溫度、振動、負載變化三大類應力的加速老化下能夠實現在恒流、恒壓、恒功率以及恒阻(CC/CV/CP/CR)四種不同測試模式下電壓、電流和功率的測試。

電源模塊測試.png

對特定的FPGA/DSP芯片實現溫度、振動、電壓和頻率四大類應力下的加速老化試驗後,結合邏輯分析儀、示波器等儀器對FPGA/DSP芯片進行電氣測試。FPGA/DSP芯片測試輸出通道數為3路,係統可實現對任意IO管腳進行IO高低電平電壓測試、IO電流測試、IO輸出特性圖形化測試以及邏輯功能測試。

 FPGA/DSP測試.png

電容在溫度、振動、電壓三大類應力下的加速老化後對其進行耐壓測試、電阻測試以及容量的測試。

 電容測試.png

繼電器主要檢測它在溫度、振動應力下的觸點電阻、繼電器吸合時間、吸合電壓、釋放時間、釋放電壓的測試。

繼電器測試.png

測試完成後用戶可對本次測試數據進行保存,為增強數據的溯源性和易查找性,本係統采用MySQL數據庫,所有的測試數據實時存入數據庫中,用戶可通過軟件界麵的查詢功能查看任意時間段的曆史數據,通過對數據的比對,從元器件的選擇和測試等方麵進行改進,以降低產品的故障率。

測試查詢.png

現場部署圖

image.png現場部署圖.png 

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